石材机械介绍:矿石样品分析仪

利用X荧光光谱特性分析矿石样品中各种金属及非金属元素成分/含量以及品位的仪器称为矿石样品分析仪.每种元素都有自己特点的光谱图,矿石样品分析仪通过X射线管激发X射线发射到矿石样品上激发矿石中元素发生能量跃迁,产生二次射线.并通过与光谱图比较分析出元素的种类.

矿石分析仪

  矿石分析仪的主要特性:
 
矿石分析仪可对各种矿石进行多元素分析，广泛应用于各类矿石的检测和分析，还应用于矿渣精炼分析及考古研究。矿石分析仪包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

矿山分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统，无辐射性同位素，现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究，对样品要求低，但是测试结果准确，能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。

·矿山分析仪采用了X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌 上型电脑)，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。
·在检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。
·使用了先进的和多用途的x射线资料模式:采用康普顿常态化校正方法:可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数:采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法:利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易进行校正。因此，Innov-X a-4000分析仪能够满足您当前和未来的需求。
·可以在显示荧幕上观看光谱。
·通过对比光谱进行对比分析，显示出分析结果，分析结果将反映是否符合相应标准的情况。
·通过更新参数或更换模式，可以利用存储的试验结果再次进行新的试验。
·资料安全性:资料以二进位格式存储于设备中，以保证资料的完整性。

  可检测标准元素:铅、铬、汞、溴、镉、锑、氯、磷、钛、锰、铁、镍、铜、锌、铋、锡、银。